画像解析による計測システムについて

こちらの会社は、画像解析による計測や検査、比較などのソフトウェア開発を行なっています。

画像解析によるプログラムでは微細回路欠陥検出や携帯電話の外観検査、位置決めの他に粒子解析なども可能です。

視覚的に理解できる画像データを活用して各種非接触測定や計測、検査、分析など幅広い分野での問題を解決します。

カンダシステム株式会社では、顧客のニーズに合わせた最適な画像解析ソリューションを提供しています。

外観検査では欠陥の他に傷や汚れ、形状などを調べることができます。

微細回路欠陥検出では回路をラインセンサーから濃淡画像として取り込みます。

CADデータから作成したマスターと比較し断線やショート、欠け、突起などの検出ができます。

エッチングの特性を考慮し、過検出を防ぐためにマスターを補正します。

回路から読み込んだ濃淡画像と緑色に表示されたマスターのずれている部分がエラーとして検出されます。

視覚的に表示されるのでエラーを把握しやすいという特徴があります。